韓ECOPIA  變溫光霍爾效應測試儀 HMS-7000

相比于傳統的變溫霍爾效應測試儀，變溫光?；魻栃獪y試儀可以通過改變照射在樣品上的不同波長范圍的光源（紅、綠、藍光源）， 得出載流子濃度、遷移率、電阻率及霍爾系數等半導體電學重要參數隨光源強度變化的曲線。

相比于傳統的變溫霍爾效應測試儀，變溫光?；魻栃獪y試儀可以通過改變照射在樣品上的不同波長范圍的光源（紅、綠、藍光源）， 得出載流子濃度、遷移率、電阻率及霍爾系數等半導體電學重要參數隨光源強度變化的曲線。

產品規格：

1、 儀器主要參數

2、 軟件操作環境

Windows 10 / 8 / 7 環境下；

3、 實驗結果

體載流子濃度、表面載流子濃度； 遷移率、霍爾系數；

電阻率、電導率； 磁致電阻；

電阻的縱橫比率；

載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數vs 光強曲線載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數vs 溫度曲線；

I-V 曲線，及不同溫度下I-V 曲線的對比圖；

4、 儀器尺寸和重量

主機尺寸：440×420×140 mm (W×H×D) / 8.5Kg；

常溫光電磁體組尺寸：700×220×280 mm (W×H×D) / 16.5Kg； 高溫磁體組尺寸：700×220×280 mm (W×H×D) / 16Kg；

5、 測量材料

Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO 等所有半導體薄膜(P 型和N 型)；

產品組成:

1、主機系統

恒定電流源+范德堡(Van der Pauw)方法終端轉換系統

2、常溫測試系統AMP55TP 及光學模塊

- 0.55T（+/-0.03T）永磁體

• 馬達控制的磁體組系統，可以實現常溫下不同光強對應的霍爾效應參數測量，該系統由霍爾效應測試儀主機及霍爾測試軟件所控制。
• SPCB 可拆卸彈簧樣品夾具，方便樣品固定

• 光學模塊

通過HMS-7000 主機及霍爾效應測試儀軟件控制光源及馬達自動完成測試，并繪制出載流子濃度、遷移率、電阻率及霍爾系數隨光源強度變化的曲線如下：

3、 高溫變溫磁體組及高溫樣品系統 (常溫至 773K（500℃）)

主要組成部分及技術規格：

- 馬達控制的磁體組件及腔體；

- 數據傳輸電纜、溫控電纜等；

- 高溫變溫樣品板及彈簧夾具；

- 高溫溫控系統、熱電偶；

- 0.51 特斯拉永磁體；

- 金屬復合材質的高溫樣品板；

- 全自動溫度控制范圍：常溫~500 攝氏度；

- 溫控精度：0.5 攝氏度；

- 控溫步長：1 攝氏度；

- 升溫時間：約 40 分鐘(常溫至 500 攝氏度)；

- 樣品尺寸：樣品邊長控制在 5mm - 20mm 長；

- 密閉樣品腔體設計，惰性氣體保護；

4、 變溫測量軟件

不同實驗溫度下對應的測試結果