美AZ 總輻射度/太陽能吸收率發射率測量儀TESA 2000

AZ技術公司的TESA 2000儀器代表了先進的便攜式儀器，根據ASTM E408測定熱發射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學設計，便于在野外或實驗室中使用。

AZ技術人員在表面光學測量和便攜式方面有著悠久的經驗儀器。因此，TESA 2000的設計包含了所需的功能，并消除了一些功能在過去的幾年里，其他便攜式儀器已經經歷了一些問題。熱身的時間和穩定性得到了提高，因為是測量各種幾何輪廓表面的能力。為主機PC兼容計算機提供數據庫軟件，用于檢索、歸檔和顯示由TESA 2000收集的數據。數據可以下載到PC機使用標準PC串行接口(串口電纜提供)，或通過USB添加一個串行到USB轉換器。

2.1儀器概述

TESA 2000儀器由三個主要部件組成:測量頭、測頭、測頭控制/顯示單元，以及供電系統(圖2-1)。頭和控制/顯示單元是由四英尺半的電纜連接，可以斷開在任何一端?？刂?顯示裝置為測量頭提供電源，并包含儀表控制和一個標準串口與PC機通信。電源系統由一個AC/DC適配器和兩個可充電電池組成(可選)、便攜包(可選)、電池充電器(可選)(如圖2-2所示)。的,崎嶇的滾動手提箱(圖2-3)將容納所有的TESA 2000硬件。(請注意，如果使用作為一個實驗室單元，你可以選擇不包括電池，背包和電池充電器)。

TESA 2000非常容易操作。紅外反射率、紅外發射率或太陽吸收率顯示可以選擇模式。樣品可以放在測量孔上，也可以放在儀器頭上定位，使孔徑牢固地固定在測量表面上。樣品約0.50英寸直徑或更大的很容易測量。更小的尺寸，直徑約0.25英寸可以容納將樣品懸浮在孔的中心時要特別小心。對于凹形或奇形表面，頂板可以拆下(圖2-4)。這暴露了半球收集器的輪廓外部包含光圈。當拆板時，必須小心，以確保良好、均勻的接觸表面。

當在實驗室中使用時，TESA 2000可以插入使用AC的標準120VAC插座適配器(電源將接受輸入100-240VAC, 50-60Hz)，頭部可以放置測量端口向上，便于放置樣品。當在現場使用時，TESA 2000可以與可選電池系統和攜帶背包(如圖2-2所示)。通過放置電池和控制/顯示單元在包中，用戶可以自由地進行現場測量，相對容易。

圖2 - 1。TESA 2000:測量頭;控制/展示盒;參考樣本。

圖2 - 2。TESA 2000便攜式反射儀系統::測量頭;控制/展示盒;書包;參考樣品;頭到顯示單元電纜;電池充電器;AC適配器;和2可充電電池。

圖2 - 3。TESA 2000用滾動箱包裝。

圖2 - 4。去除頭蓋的TESA 2000測量不同的幾何形狀

2.2規范

2.2.1 電：12VDC, 2.0安培。由12V可充電電池或12VDC適配器，接受100-240VAC和50-60Hz輸入。

2.2.2 性能

。波長范圍:-紅外范圍:3?m ~ 35?m -太陽范圍:250nm ~ 2500nm

。測量精度(鏡面和漫反射樣品):

-灰色樣品滿量程的1%

-非灰色樣品全量程的3%

-再現性: 0.7%或更好的全尺度熱輻射和1%的全尺度或更好的太陽能吸收率。

-測量范圍: 0.000 ~ 1.000

-最小樣本量: 0.5英寸

-樣品間距: 散射光(漫反射)的樣品應在孔徑正常范圍的0.05英寸內。更像鏡子(鏡面)的樣品應該在0.10英寸的孔徑范圍內。

-樣品溫度: 露點至150°F(66°C)。水的縮合可以顯著改變紅外性質;否則，不存在低溫極限。

-樣品類型:任何樣品，包括箔、薄膜、絕緣體等。

-使用第二面鏡有限制。如果透明層大于4mm，就會產生偏差。

-樣品的幾何形狀(輪廓)通過去除頭蓋(圖2-4):-凹面:~6.5英寸(16.5厘米)半徑或更大

-凸面:0.5英寸(1.25厘米)半徑或更大

—空腔:直徑5.5英寸或更大

-讀數:數字液晶面板儀表，熱發射率(ε)，紅外反射率(ρ)，或太陽吸收率(α)

2.2.3 TESA 2000 Sub-units

2.3 技術描述和理論

TESA 2000光學系統是一個高度專業化的系統，專為特殊用途而設計測量太陽吸收率(空氣質量零)和熱發射度。TESA 2000光學系統已經得到了應用設計的目的是盡量減少損耗，方便和保持光學對準，并利用AZ的特性該技術獨特的半球收集器，在不犧牲精度的前提下，既小巧又便于攜帶的測量。

2.3.1紅外子系統

TESA 2000光學系統使用了一個紅外光源，它提供了一個“色溫”的輻射非常接近于從3?m到35?m的300K黑體。因此，一個幽靈般的整合房間

測得溫度。截斷源光束以15°入射角在樣品孔徑中心成像。入射總能量不影響樣品溫度，即使當箔和絕緣體被測量。從樣品反射的能量中，大約99%是在2?steradian半球收集到的，然后在一個無窗探測器系統上進行成像。探測器被涂上一層，通過遠紅外得到平坦的響應。對于一個真正的半球收集器，重要的是放置漫反射樣品盡可能接近光圈以防止散射光逸出，使其向下偏置測量。有了更多的高光樣品，這個散射光變得更少，測量也更少對樣品放置位置敏感。

2.3.2太陽能子系統

TESA 2000光學系統使用一個經過過濾的光源來提供非常接近的輻射匹配從250nm到超過2500nm(如定義)的氣團零太陽的每波長相對強度符合ASTM標準E490)。一個截斷的源光束被定向到一個收集鏡，收集鏡將源成像在中心以15°入射角取樣孔徑。注:鏡面系統對于太陽能源是不一樣的紅外源。從樣品反射的能量中，大約99%被收集在一個中然后在一個無窗探測器系統上重新成像。探測器被涂上了一層以獲得平坦的響應整個太陽光譜。

對于一個真正的半球收集器，重要的是將漫射樣品盡可能靠近測量光圈以防止散射光逸出。這是更多的鏡面樣本散射光變少，測量對樣品放置不太敏感。